Авторизация

Ім'я користувача:

Пароль:

Новини

Топ-новини

Фінансові новини

Фінанси

Банки та банківські технології

Страхування

Новини економіки

Економіка

ПЕК (газ та електроенергія)

Нафта, бензин, автогаз

Агропромисловий комплекс

Право

Міжнародні новини

Україна

Політика

Бізнес

Бізнес

Новини IT

Транспорт

Аналітика

Фінанси

Економіка

ПЕК (газ та електроенергія)

Нафта, бензин, автогаз

Агропромисловий ринок

Політика

Міжнародна аналітика

Бізнес

Прес-релізи

Новини компаній

Корирування

Курс НБУ

Курс валют

Курс долара

Курс євро

Курс британського фунта

Курс швейцарського франка

Курс канадського долара

Міжбанк

Веб-майстру

Інформери

Інформер курсів НБУ

Інформер курс обміну валют

Інформер міжбанківські курси

Графіки

Графік курсів валют НБУ

Графік курс обміну валют

Графік міжбанківській курс

Експорт новин

Інформація про BIN.ua

Про сайт BIN.ua

Реклама на сайті

Контакти

Підписка на новини

Ученые научились искать бэкдоры в чипах с помощью рентгеновских лучей

11:33 10.10.2019 |

Новини IT

 

Команда специалистов университета Южной Калифорнии, Швейцарского технологического института и Института им. Пауля Шеррера разработали новую технологию, позволяющую легко и без вреда находить уязвимости и бэкдоры в компьютерных процессорах.

Специалисты изобрели способ осуществления реверс-инжиниринга всего процессора без причинения ему каких-либо повреждений. Технология получила название «Птихографическая рентгенологическая ламинография» и является усовершенствованной версией метода под названием «Птихографическая компьютерная томография», представленного учеными в 2017 году.

По словам исследователей, «Птихографическая рентгенологическая ламинография» является единственным на сегодняшний день способом реверс-инжиниринга чипа без необходимости его разрезать. С ее помощью можно получить изображение всего чипа с возможностью детально рассмотреть все нужные участки. Для сравнения, все другие техники реверс-инжиниринга предполагают послойное разрезание чипа и картирование каждого слоя с помощью оптических (для более крупных участков чипа) и электронных (для более мелких участков) микроскопов.

Техники, разработанные исследователями ранее, предполагали использование слишком сильных рентгеновских лучей, из-за чего изображения чипа получались не очень отчетливыми. Новый способ предполагает направление рентгеновских лучей под углом 61 градус, благодаря чему снимки получаются более точными, но все равно не идеальными. Тем не менее, пробелы можно восполнить, зная, какие межсоединения должны использоваться в исследуемом участке. Если до начала процесса исследования знать конструкцию чипа, можно использовать совсем немного протонов, и финальное изображение все равно будет четким и понятным.

За матеріалами: SecurityLab
 

ТЕГИ

Курс НБУ на завтра
 
за
курс
uah
%
USD
1
40,4478
 0,0706
0,17
EUR
1
43,2347
 0,1929
0,44

Курс обміну валют на 21.06.24, 10:37
  куп. uah % прод. uah %
USD 40,2896  0,04 0,11 40,8960  0,04 0,10
EUR 43,3380  0,10 0,22 44,1212  0,09 0,21

Міжбанківський ринок на 21.06.24, 11:33
  куп. uah % прод. uah %
USD 40,4550  0,09 0,21 40,4700  0,09 0,21
EUR -  - - -  - -

ТОП-НОВИНИ

ПІДПИСКА НА НОВИНИ

 

Бізнес